Обработка результатов измерений

Для построения контрольных карт по альтернативному признаку также как и в предыдущей лабораторной работе используются результаты измерений выборки резисторов объемом не менее 30 шт., полученные в лабораторной работе №1. Предполагается, что порядок записи результатов в таблице измерений представляет собой имитацию строгой временной последовательности изъятия резисторов и проведения измерений их сопротивлений в ходе технологического процесса. Процесс обработки результатов измерений проводится в том же порядке, что и в лабораторной работе №3.

1. Имеющаяся «временная последовательность» измерений сопротивлений резисторов (табл.1.5, лаб.раб. №1) разбивается на N групп. В данной лабораторной работе N = 10. Результаты группирования заносятся в таблицу по форме табл. 4.1, в которую далее заносятся и результаты расчетов.

Таблица 4.1

Результаты группирования измерений и расчетов параметров контрольных карт по альтернативному признаку для технологического процесса производства резисторов

№ группы	R1	R2	…	Rm	Объем группы	Количество дефектов в группе	Доля дефектов в группе	Количество дефектов на единицу продукции
1
2
…
j
…
N

2. Для определения количества дефектных изделий (измерений, соответствующих дефектным изделиям) в группе используется прием, имитирующий образование дефектов.